Advanced Sorting Technology

紹介

SP Industrialは、産業用途の多様な温度要件に対応するために設計されたNANDフラッシュの試験および分類のための先進選別技術（Advanced Sorting Technology：AST）を導入しています。この技術はNANDフラッシュメモリの耐久性と安定性を正確に評価し、厳格な試験結果に基づいて精密に分類します。この入念なプロセスにより、分類されたNANDフラッシュが幅広い温度範囲の産業用途における厳しい要求を完全に満たすことを保証します。

AST試験フロー:

SP IndustrialはAST試験を実施し、NANDフラッシュを3つの異なるカテゴリーに分類します。試験はさまざまな温度とデータ転送速度で行われ、広範な温度範囲での安定した性能を確保します。この厳密な方法論は過酷な環境条件を模擬し、各技術世代において最大速度での最適動作を検証します。

• 電気的試験： NANDフラッシュ内の電流、電圧、短絡問題を検査し、正常な電気機能を保証します。
• 機能試験： SLCおよびTLCモードで複数回の読み取り、書き込み、消去操作を実施し、正常なデバイス機能を確認します。
• エラービット試験： 試験中にエラービットを記録し、その結果に基づいてNANDフラッシュを広温度仕様と通常温度仕様に分類します。

厳格なAST試験に合格したNANDフラッシュのみが広温度製品に組み込まれ、最高の品質と安定性を保証します。この技術は多様な用途に応じてNANDフラッシュを正確にグレーディングし、SP Industrial製品の信頼性と耐久性を大幅に向上させます。