Advanced Sorting Technology

고급 분류 기술

SP Industrial은 산업용 고객의 다양한 온도 요구사항을 충족하기 위해 특별히 설계된 NAND 플래시 테스트 및 분류를 위한 고급 분류 기술(Advanced Sorting Technology, AST)을 적용하고 있습니다. 이 기술은 NAND 플래시 메모리의 내구성과 안정성을 정밀하게 평가한 후 엄격한 테스트 결과에 따라 정확하게 분류합니다. 이러한 세심한 과정은 분류된 NAND 플래시가 광범위한 온도 범위의 산업용 애플리케이션에 필요한 엄격한 요구 사항을 완벽히 충족하도록 보장합니다.

AST 테스트 절차:

SP Industrial은 AST 테스트를 통해 NAND 플래시를 세 가지 뚜렷한 카테고리로 분류합니다. 다양한 온도와 데이터 전송 속도에서 테스트를 수행하여 넓은 온도 범위 내에서 일관된 성능을 보장합니다. 이 엄격한 방법론은 혹독한 환경 조건을 시뮬레이션하며 각 기술 세대에서 최대 속도로 최적의 작동을 검증합니다.

1. 전기 테스트: NAND 플래시 내부의 전류, 전압 및 단락 문제를 점검하여 정상적인 전기적 기능을 보장합니다.
2. 기능 테스트: SLC 및 TLC 모드에서 여러 번 읽기, 쓰기, 삭제 작업을 수행하여 장치의 정상 작동을 확인합니다.
3. 오류 비트 테스트: 테스트 과정에서 오류 비트를 기록하고 결과에 따라 NAND 플래시를 광온도용과 일반 온도용으로 분류합니다.

엄격한 AST 테스트를 성공적으로 통과한 NAND 플래시만이 광온도 제품에 통합되어 최고 품질과 안정성을 보장합니다. 이 기술은 다양한 애플리케이션에 맞게 NAND 플래시를 정밀하게 등급화하며 SP Industrial 제품의 전반적인 신뢰성과 내구성을 크게 향상시킵니다.